公司建立针对缺陷检测的深度学习研究技术通用框架TS VisionDL(Tian Suo Vision Deep Learning),包括前端、图像预理、图像标注、训练框架、测试框架、部署框架等等。可以对缺陷图像原始数据进行图清洗、图像数据增强、图像标注、缺陷模式判断、模块功能测试、产品功能测试以及可视化应用。
公司建立针对缺陷检测的深度学习研究技术通用框架TS VisionDL(Tian Suo Vision Deep Learning),包括前端、图像预理、图像标注、训练框架、测试框架、部署框架等等。可以对缺陷图像原始数据进行图清洗、图像数据增强、图像标注、缺陷模式判断、模块功能测试、产品功能测试以及可视化应用。