TS VisionDL算法平台

公司建立针对缺陷检测的深度学习研究技术通用框架TS VisionDL(Tian Suo Vision Deep Learning),包括前端、图像预理、图像标注、训练框架、测试框架、部署框架等等。可以对缺陷图像原始数据进行图清洗、图像数据增强、图像标注、缺陷模式判断、模块功能测试、产品功能测试以及可视化应用。

解决方案

苏州天梭智能科技有限公司
TS VisionDL算法平台
TS VisionDL算法平台

公司建立针对缺陷检测的深度学习研究技术通用框架TS VisionDL(Tian Suo Vision Deep Learning),包括前端、图像预理、图像标注、训练框架、测试框架、部署框架等等。可以对缺陷图像原始数据进行图清洗、图像数据增强、图像标注、缺陷模式判断、模块功能测试、产品功能测试以及可视化应用。

设备特点
  • 在实现了国际主流的视觉分类、检测与分割等算法的同时,结合生产实践对算法进行优化,不断提升检出正确率、召回率,提升人工智能算法的下限;同时对算法做量化、裁剪以实现算法加速,为后续将人工智能算法部署到云端和边缘计算平台做好技术铺垫;完善上下游软件工具链,实现端到端的人工智能技术产品化落地,在系统工程层面(数据+整套产品方案)形成技术壁垒,并极大地提升了产品的易用性,降低产品的学习与使用成本。 实际项目调试中,可以灵活调试模型的超参数,以期达到目标的最佳训练、检测效果;除此之外,界面的人机交互性较好,直观的统计产品各缺陷的数据统计、良率统计,易于实现工厂端落地应用。

方案参数
应用领域
  • 半导体晶圆,新能源锂电, 3C消费类电子产品检测等。

苏州天梭智能软件有限公司
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